学术交流

付海涛: 芯片SCAN测试原理及诊断方法学

时间:2021-04-19来源:微电子学院/物理学院

报告时间:2021年4月20日(星期二)14:00-15:20

报告地点:翡翠湖校区科教楼A座第五会议室

:付海涛 博士

工作单位:深圳市海思半导体js345金沙城娱乐场线路

举办单位:微电子学院/物理学院

报告简介

随着摩尔定律的演进,工艺逐步深入,DFT(可测性设计)及其诊断学在其良率提升环节具有越来越重要的价值和地位。本讲座立足于逻辑SCAN测试原理,从工程应用角度探讨先进工艺下的精准诊断和良率提升方法学。

报告人简介

付海涛,博士,毕业于电子科技大学,2010年加入华为海思,现担任海思DFX平台技术专家,主要技术方向为数模测试、DFT架构研究。

关闭

XML 地图 | Sitemap 地图